Enfoque convencional (izquierda) Enfoque patentado (derecha)
Egami (traducido) ha localizado una patente presentada por Canon en relación con los métodos que tienen como objetivo mejorar el rendimiento y la precisión del AF de detección de fase. Esta es la segunda patente en unos días. Este método AF aparece en la Rebel T4i / 650D y recientemente se anunció en la cámara sin espejo de Canon, la M EOS . Hay que tener en cuenta que este tipo de método AF es particularmente útil en una cámara sin espejo, ya que a estas cámaras les falta el espejo, y no puede enfocar de la «manera tradicional».
La patente detalla metodos para incrementar la efectividad del AF eliminando problemas causados por el angulo de incidencia de la luz: “[…] reducir el limite de difracción con una capa con alto indice de refraccion“. Otro aspecto que se analiza es la reducción del tamaño de pixel (mayor resolución??). Es muy probable que las patentes se relacionen con un sensor próximo que estará en el corazón de la cámara más orientada a una camara «pro» que podria ser anunciada en septiembre en Photokina.
- Patent Publication No. 2012-151367
- 2012.8.9 Release Date
- 2011.1.20 filing date
- The diameter of the spot light focusing of the micro lens
- Determined by the numerical aperture and λ the wavelength of the incident light
- By the wave nature of light, not smaller than the diffraction limit
- When the pixel size below the diffraction limit, pupil division is impossible
- ⊿ = 1.22 * (λ / n * sinθ) diffraction limit
- ※ This angle θ is half the chance of lens optical system was synthesized in the micro-lenses and layers
- Related art
- There is a light flux can not reach into the openings of the light-shielding layer of the phase difference AF pixel for the image plane, the light-receiving efficiency is reduced
- Although the distance can be shortened and the photoelectric conversion unit if microlens back-illuminated (BSI), if the pixel consists of a low refractive index layer in the layer lens +, for total internal reflection occurs, can not be expected to increase the angle
- Canon’s patented
- To reduce the diffraction limit by a high refractive index layer
- Structure of the pixel
- Within a layer lens, and light shielding layer formed between the microlens
- The high refractive index layer, filled between the lens and the light-shielding layer in the layer
- The low refractive index layer, a light shielding layer filled between the microlens and
- Optical system consisting of micro-lens and lens in the layer, connecting the focal point in the PD
- A case
- Λ = 540nm wavelength of the incident light
- 1.6 refractive index of the microlens
- 1.45 refractive index of the low refractive index layer
- Layer of high refractive index lens and in the layer refractive index n = 2.3 (silica Sio 2 of the prior art is n = 1.46)
